Институт тепло- и массообмена им. А.В.Лыкова НАН РБ предлагает потребителям сканирующий ближнепольный оптический микроскоп на основе производственного соглашения, ищет партнеров для заключения соглашения о дистрибьюторских услугах.

Институт тепло- и массообмена им. А.В.Лыкова НАН РБ разработал сканирующий ближнепольный оптический микроскоп (далее - СБОМ), предназначенный для исследований структуры и состава поверхностей оптически непрозрачных объектов. СБОМ обеспечивает исследование поверхности объектов методами оптической микроскопии с разрешением ниже дифракционного предела за счет детектирования излучения, рассеянного изучаемым объектом на расстояниях меньших, чем длина волны света.

Для создания локальной пространственной неоднородности оптического излучения с характерным размером 5 – 20 нм используется прохождение излучения через апертуру с размерами много меньше длины волны (т.н. апертурный метод), либо использование реального наноразмерного электрического диполя – квантовой точки, либо металлической наночастицы, как правило, с эффектом гигантского комбинационного рассеяния (т.н. безапертурный метод).

На больших расстояниях наблюдаются только излучательные моды, причем для излучения с длиной волны 650 нм и диафрагмы с отверстием до 5 нм мощность излучения в дальней зоне составляет 10-10 от мощности падающего излучения. При взаимодействии эванесцентного излучения с наноразмерным исследуемым объектом в ближней зоне часть энергии электромагнитного поля преобразуется в излучательные моды, которые регистрируются оптическим фотоприемником в виде распределения интенсивности оптического излучения в зависимости от локальных оптических свойств наноразмерного образца(локальных значений отражения, преломления, поглощения и рассеяния света).

Сканирующая система ближнепольного оптического микроскопа ССБОМ-01 обеспечивает взаимное перемещение зонда и образца в трех измерениях X, Y, Z с помощью специального позиционера с пьезоприводами, управление которыми осуществляется специализированным компьютером.

Состав СБОМ:
- сканирующая платформа для наноперемещений;
- микропроцессорный блок управления сканирующей платформой;
- оптоволоконная система;
- система регистрации и восстановления изображений.

Основные технические характеристики СБОМ:

поле сканирования в плоскости XY	100х100 мкм
диапазон измерений линейных размеров по оси Z	50-100 нм
спектральный диапазон регистрируемого излучения	480-680 нм
оптическое увеличение	60 крат

В конструкции СБОМ использована схема исследования непрозрачных образцов на отражение, в которой зонд подводится к образцу сверху, и которое затем регистрируется фотоприемником, что позволяет дополнительно реализовать люминесцентный режим работы с детектированием люминесцентного излучения объекта.

Допускается использование для управления приводами персонального компьютера с использованием интерфейса USB 2.0 или USB 3.0.

Потребители, заинтересованные в приобретении сканирующего ближнепольного оптического микроскопа в рамках производственного соглашения.

Партнеры, заинтересованные в заключения соглашения о дистрибьюторских услугах.