Раздел
|
ПРИБОРОСТРОЕНИЕ
|
Отрасль промышленности
|
Металлы, металлические сплавы для радиоэлектроники
Металлические покрытия
Общая технология производства и оборудование в приборостроении
Приборы для измерения электрических и магнитных величин
|
Программа
|
Новые материалы и технологии
|
Область применения
|
Для кристаллов приборов (диодов Шотки серии SB).
|
Описание
|
Проведенные испытания, кристаллов полупроводниковых приборов серии SB показали, что кристаллы приборов выдерживают в отличие от ранее изготавливаемых кристаллов температуру эксплуатации до 150 °С. Разработанная технология отличается достижением приемлемой адгезии плёнок — до 30 МПа, а также пониженным уровнем остаточных механических напряжений, определяющих стабильность плёнок в условиях эксплуатации, в том числе при термоциклировании, а также надёжность приборов.
|
Научно-технический уровень
|
По сравнению с аналогом — технологией получения тонкоплёночных покрытий на кремнии достигнуты требуемые значения предельной температуры эксплуатации. Отечественных производителей приборов аналогичного класса не имеется. Соответствует уровню технологии производства зарубежных аналогов — кристаллов диодов Шоотки серии SB типа I0CTQI50,10CTQ150S и др.
|
Степень готовности
|
Технология планарной металлизации кристаллов, устойчивых к повышенным температурам сборки и эксплуатации приборов — диодов Шоттки серии SB внедрена в производство.
|
Ожидаемый результат
|
Увеличение срока эксплуатации изделий.
|
Форма реализации
|
Разработчик на основе договора готов передать техдокументацию и оказать научно-техническую помощь при внедрении технологии. Требуемый объем инвестиций будет определен после уточнения номенклатуры приборов, в которых предполагается использование разработанных наноструктурных материалов тонкоплёночных покрытий и технологии их формирования.
|